IC开短路测试(open_short_test)又叫continuity test 或contact
test,它是一种非常快速发现芯片的各个引脚间的是否有短路，及在芯片封装时是否missing bond
wires.通常都会被放测试程序的最前面.它还能发现测试时接触是否良好，探针卡或测试座是否有问题。 IC引脚开短路测试的测试原理，分为open_short_to_VDD 测试和open_short_to_VSS测试.一般来说芯片的每个引脚（即IO口）都有泄放或说保护电路,是两个首尾相接的二极管,一端接VDD,一端接VSS。IC的开短路主要是利用这一对二极管的PN结的导通压降0.1V至0.8V来检测开短路，这一点与线类的阻抗判定有一点区别。 open_short_to_VSS测试：即测量toVSS的二极管，那么测量信号电流(一个20uA到1000uA)是从DUT(被测品)的GND的接点流入，从IC的管脚IO口流出.然后测量GND对IO电压,正常的值应该是一个二极管的偏差电压0.7伏左右,我们一般设上限为1伏，下限为0.1伏,大于1伏判断为openfail,小于0.2伏判断为shortfail.这就是open_short_to_VDD测试. open_short_to_VDD测试：即测量toVDD的二极管，那么测量信号电流(一个20uA到1000uA)是从DUT(被测品)IC的IO口的接点流入，从VDD口流出.然后测量IO对VDD电压,正常的值应该是一个二极管的偏差电压0.7伏左右,我们一般设上限为1伏，下限为0.1伏,大于1伏判断为openfail,小于0.2伏判断为shortfail.这就是open_short_to_VDD测试. 总之，我们利用IC内部的这一对二极管即可检测出IC管脚的开路与短路的问题，具体表现为生产连锡，断线，对地短路等等； 这里我们介绍一种自主的IC开短路测试系统ICT_LT19;手册里面有详细介绍利该系统的二极管测量功能diodle，可查看手册链接为： https://pan.baidu.com/s/1XCc5BWEM5fmKP3Zi6RvwHw
工具/原料
1
ICT_LT19系统一台
2
电脑一台
3
标准串口线
方法/步骤
1
将ICT_LT19上面的测试接口插入被的IC或产品。如果此例我们将16点与15点间接入一个二极管，实际的IC可以是多个二极管结合；
2
使用LT_DEV高级功能按钮，打开LT高级分析器
3
点击二级管分析按钮，系统的进度条直到结尾，这时会显示D16-15,表示16点与15点间有一个二极管，方向是16点流向15点，因为二极管是单向导电性。
注意事项
可以上逃饱上找'ICT_LT19'或“LGRVDOS'