尼龙真空包装袋厚度测试方法

尼龙真空包装袋厚度的测量方法，可以根据包装袋的定义分为形状膜厚测量方法、质量膜厚测置方法和物性膜测量方法三大类，也可以根据测量方法对薄膜破坏与否分为破坏测量方法和非破坏测量方法两大类。　　尼龙真空包装袋薄膜的厚度测量方法有金相显微镜法、扫推电镜法、多光束干涉法、触计法、微量天平法、石英晶体振荡法、电阻法、电容法、偏振光解析法等等。　　上述测量方法中多数测量结果是尼龙真空包装袋的局部厚度的平均值，测量时应多点测量，并计算总平均值作为膜层厚度的测量结果。　　今天给大家介绍物理气相沉积常用的测量方法，方法如下：　　1、金相显微镜法　　金相显微镜法是将试样薄膜后，沿垂直于薄膜表面的方向切断，将有膜的一面与一块光洁表面的金属保护块，用胶粘剂粘合或用环氧树脂镶嵌，在薄膜的断面方向上按金相试样的制备方法，制成金相试祥。在金相显微镜下用测微计测量膜基界面到薄膜表面的距离，就是尼龙真空包装袋的厚度。　　金相显微镜的放大倍率应在500倍以上，膜厚小于1μ时误差较大，试样镶嵌时，应注意尽可能使薄膜的断面与膜层垂直，以降低测量误差。　　2、扫描电镜法　　扫描电镜法的试样制备方法，可以用金相显微镜法的制样方法，制成薄膜的断面金相试祥，也可用镀膜的试样，沿垂直于膜面的方向制成断口试样，用扫描电子显微镜观察测置尼龙真空包装袋的厚度，观察测量时，应注意视场的角度应垂直薄膜的断面。　　3、触针法　　触针法又称表面轮郭仪法。触针法测置时，需通过溶解一部分薄膜成者先遮蔽一部分基片再镀膜，使基片与膜层形成一个台阶，再用轮郭记录仪两量台阶的高度。此高度即为尼龙真空包装袋的厚度。　　触针法膜厚测量原理如图13-73所示。它是利用一个触针在试样表由垂直划动，当触针划过试样的台阶时，触针将会产生垂直位移。利用位移传感器，和出触针的垂直位移置，即可求出薄膜的厚度，图13-74是电感比较仪的原理。它的测置厚度范围是1～1000μm，分辨率0.02～20μm，另一种电子触针式表面轮郭仪的测量厚度范围为0. 005～250μm，分辨率0.005～1μm。这两种仪器均可以用来测量尼龙真空包装袋的厚度。图13-74是触针法测定银膜的记录曲线。　　影响触针法测量精度的因素有：仪器的记录误差;仪器垂直放人倍数选择太低，误差增大;触针测量力太大，会划伤薄膜，造成测量误差;触针的直径和尼龙真空包装袋表面的粗链度应配合选用，以降低测量误差，尼龙真空包装袋表面粗糙时，应选用大直径触针，一般要求记录的基体粗糙度，不应超过台阶高度的另外，台阶的质量、振动、尘土，想度的变化等也会彩响薄膜厚度的测量精度。