SDT270 是一台为预防性维护（PDM）而设计的便携式超声波检测仪。系统同时具有红外测温功能和激光转速测量，以获取温度和转速数据。 SDT270 也是第一个包含一个SQL 数据库的便携式超声波检测仪，这项功能允许同时收集多类型的检测数据，包括：不同探头的超声波强度、记录了的超声波音频、温度及转速等数据，创建成数据库，以便分析。SDT270 是第一个以True Amplitude(全真振幅) 记录的超声波检测仪器，这项技术令超声波首次能够以精确的声音文件保存在数据库中，方便日后对超声波文件进行比较和趋势分析。SDT270 每秒可捕获多达25 万个的超声波信号样本。检测结果是非常明确、精准且可比较的时间信号，这些信号存储在系统庞大的内部存储器中，以方便使用Ultranalysis Suite Software（UAS）软件进行数据管理，音频分析及生成报告。
检漏方法
1
将封装好的器件放入密封实验箱，将光学干涉仪调整到观测封装的盖帽。然后将实验箱抽真空，同时用光学干涉仪观测盖帽是否变形。在视野内，同时观测每一只封装的盖帽是否随压力变化而变化。在减小的压力下保持时间T1，其盖帽有无继续变形。如果开始时随着实验箱压力改变，未检测到盖帽变形，或在实验箱压力保持恒定的情况下，检测到盖帽变形，则器件粗漏不合格，应该拒收。上述程序为光学粗检漏。
2
该实验也用于细检漏，其程序与粗检漏类似。具体做法是，前半段与粗检漏一样。在粗检漏实验程序完成后，再随实验箱用氦气加压，压力不大于2*10Pa。然后用光学干涉仪在时间T2观测其盖帽是否变形。若有变形，则器件细检漏不合格，应该拒收。该发只适用于薄形盖帽封装（一般金属盖帽的厚度小于0.6MM）。实验灵敏度与盖帽变形的程度有关，即与盖帽的材料种类、几何尺寸有关，只符合下列数值的器件才能进行这种方法的检漏。END
SDT270超声波检漏仪功能及特点
探头灵敏度极高；可录取存储及分析超声波；可储存超声波值；可把超声波转成人耳能听的声波，并能实时判断有否故障；可把历次测量数据建成数据库管理，方便分析预测趋势。 END
上一篇：春节送父母怎样的礼物比较好
下一篇：容器如何寻找漏点