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DC/DC变换器中差分延迟线ADC的实现过程

下文中将介绍一种无需外部时钟、可抵消部分工艺偏差的差分延迟线ADC,并对其建模。该ADC结构简单、控制信号在内部产生、转换速率快、功耗低,可应用在高频数字DC/DC控制芯片中。在0.13μmCMOS工艺下仿真表明,在采样电压0.7~1.5V范围内,该ADC输出没有明显偏移,线性度良好。传统的DC/DC变换器一般采用模拟控制方式,它具有体积小,功耗低等优点,但易受噪声影响。而数字控制的DC/DC变换器对工艺参数和环境不敏感、控制算法可通过编程实现、易于集成,且能大大缩短产品的开发周期。
实现过程
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首先是DC/DC变换器结构 数字控制器主要由模数转换器(ADC)、数字补偿器(Digital Compensator)和数字脉冲宽度调制器(DPWM)组成。一种常用的数字控制器如图1所示。主电路输出电压与基准电压经ADC进行比较并转换为相应的数字误差信号,数字补偿器则根据误差进行补偿得到给定数字信号。经DPWM转换成时间信号,控制主电路开关通断。

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标准CMOS工艺下一个逻辑门延迟td与电源电压VDD叻有这样一个关系 其中,K是一个与器件和工艺有关的常数,Vth是MOS器件的阈值电压。当VDD大于Vth时,td可看作与VDD成反比。 延迟线ADC由延迟链、寄存器组和译码电路组成,结构如图所示。一串延迟单元组成延迟链。一种可行的延迟单元的结构如图所示。它由一个反相器与一个或非门级联得到。每个延迟单元都有一个输入端,一个复位端和一个输出端。 给定一个开始信号AD_Stan,经一定时间间隔后产生一个采样脉冲信号sample,作为D触发器的控制信号。在采样信号有效时对D触发器的输入信号进行锁存,将D触发器的输出信号送至译码电路得到最后的误差信号。图4是延迟线ADC的时序图,假设图2中n=8。在采样信号有效时,AD_Start信号正好传到第5个延迟单元,于是q1~q5输出为1,q6~q8输出为0。采样电压越大,延迟时间td越小,信号传播得越快,输出的温度计码中的1的个数越多。译粒关爷码电路再将温度计码转换为所需要的二进制码。延迟线ADC即通过输入电源对延迟链供电,根据延迟链延迟时间的大小来确定输入的大小。

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设计方法和仿真结果 延迟单元对精度要求较高,采用全定制设计,而译码电路对精度要求较低,采用基于标准库单元设计,整体电路使用Hsim进行数模混合仿真。 差分延迟线ADC输入输出曲线 设计时,基准电压为1.5V,工作频率是1.5MHz,输盆独入电压从0.7~1.5V线性上升,输出为译码后的结果,即6位数字信号e。Vsense每增加或减少12.5mV,e增加或减少“1”,但e的最大值是63。图7为0.13μm CMOS工艺下差分延迟线ADC的输入输出曲线,可以看出,差分延迟线ADC的输出没有明显偏移,零输入对应零输出,线性度良好。 总结 该差分延迟线ADC电路结构简单,不需要外部电路产生控制信号,可抵消部分工艺偏差。该ADC转换速率很快,功耗低,适合应用在高频数字DC/DC变换器中。

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